以下內(nèi)容是光學(xué)膜厚測量儀廠家--昆山勝澤光電科技對光學(xué)膜厚測量儀AR2 –LAB的介紹。
      1.光學(xué)膜厚測量儀AR2 –LAB產(chǎn)品特性：
      測量膜厚和折射率，膜厚重復(fù)精度達(dá)１納米，折射率重復(fù)精度達(dá)0.01；
      配氣浮平臺便于移動大片玻璃；
      質(zhì)量控制,生產(chǎn)過程控制；
      測量膜厚和折射率；
      用于實驗室檢測太陽能AR減反膜膜厚和折射率，樣片zui大要求300mm x 300mm。
      2.光學(xué)膜厚測量儀AR2 –LAB配套軟件特性：
      菜單管理；
      抽檢監(jiān)控和歷史數(shù)據(jù)界面；

      可根據(jù)客戶要求定制界面；

      

      更多內(nèi)容請關(guān)注光學(xué)膜厚測量儀廠家--昆山勝澤光電科技官網(wǎng)。