光學測厚儀應用較為廣泛，在測量時有很多注意事項?，F(xiàn)在就和大家簡單聊一聊關于光學測厚儀測量注意事項。  
  1、在進行測試的時候要注意標準片集體的金屬磁性和表面粗糙度應當與試件相似。
  2、測量時側頭與試樣表面保持垂直。
  3、測量時要注意基體金屬的臨界厚度，如果大于這個厚度測量就不受基體金屬厚度的影響。
  4、測量時要注意試件的曲率對測量的影響。因此在彎曲的試件表面上測量時不可靠的。

  5、測量前要注意周圍其他的電器設備會不會產生磁場，如果會將會干擾磁性測厚法。

  6、測量時要注意不要在內轉角處和靠近試件邊緣處測量，因為一般的測厚儀試件表面形狀的忽然變化很敏感。
  7、在測量時要保持壓力的恒定，否則會影響測量的讀數(shù)。
  8、在進行測試的時候要注意儀器測頭和被測試件的要直接接觸，因此超聲波測厚儀在進行對側頭清除附著物質。   
  關于光學測厚儀測量注意事項的內容今天就和大家介紹到這，如果想要了解更多關于光學測厚儀，請關注昆山勝澤光電科技有限公司，從事在線測厚儀,膜厚測試儀,光學測厚儀,膜厚測量儀,涂層測厚儀,pet涂布測厚儀等儀器的生產，咨詢熱線：0512-57716856。